Equips d’inspecció de semiconductors

Els equips d’inspecció de semiconductors MPC són un sistema d’eliminació de pols secs direccional completament automàtic per als sensors d’imatge CMOS. Està equipat amb una càmera d’alta resolució que pot identificar la matèria estrangera de partícules ultrafines i guiar el mecanisme d’enganxament de pols per realitzar l’eliminació de pols direccional d’alta precisió. Pot eliminar la matèria estrangera superior a 700nm al substrat/sensor. La màquina està equipada amb un mòdul de servo d'alta velocitat. Es poden seleccionar estacions simples/dobles segons la capacitat de producció. La capacitat de producció màxima és superior a 5000pCs/h. Pot produir informes i generar diagrames de mapes. Al mateix temps, les dades es poden penjar al sistema MES del client.

Detecció i neteja parcial, detecció de db

● Semiconductor (mòdul òptic, hòstia)

● Indústria d'embalatge i proves de semiconductors (sensor, filtre IR, proves IC, mòdul d'empremtes digitals)

Els equips d’inspecció de semiconductors MPC poden millorar significativament l’eficiència i el rendiment de la producció, substituir el mostreig manual tradicional i és especialment adequat per a la fabricació per lots de productes d’alt valor afegit. Si necessiteu una solució més eficient, consulteu Huizhou Zhongke Advanced Manufacturing Co., Ltd.

Etiquetes populars: Equips d’inspecció de semiconductors, fabricants d’equips d’inspecció de semiconductors, proveïdors, fàbrica

● Detection Accuracy: >0.6μm

● Floating Dust Removal Rate: >99.9%